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C SAM超聲波掃描檢測(cè)是一種非破壞性檢測(cè)技術(shù)，主要利用聲學(xué)掃描原理來(lái)檢測(cè)樣品內(nèi)部的結(jié)構(gòu)和缺陷。掃描聲學(xué)顯微鏡，是一種高頻超聲波顯微鏡，用于觀察和分析材料內(nèi)部的微觀結(jié)構(gòu)。