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PCB電路板分層-空洞-裂紋缺陷檢測

PCB電路板分層-空洞-裂紋缺陷檢測

簡要描述:C-SAM超聲波檢測利用超聲波在介質(zhì)中的傳播特性,通過檢測反射波來識別多層PCB中的焊接質(zhì)量及通過孔焊接情況。常用于PCB電路板分層-空洞-裂紋缺陷檢測。

所屬分類:PCB電路板檢測

更新時間:2024-12-18

廠商性質(zhì):其他

詳情介紹
品牌優(yōu)爾鴻信檢測周期3工作日

優(yōu)爾鴻信檢測SMT實驗室,多年從事電子元器件檢測服務,實驗室配備有多種型號的C-SAM、X-RAY、工業(yè)CT等無損檢測設備,可提供PCBPCBA各個環(huán)節(jié)的檢測服務。

C-SAM超聲波掃描是一種非破壞性檢測技術,主要利用聲學掃描原理來檢測樣品內(nèi)部的結(jié)構(gòu)和缺陷。掃描聲學顯微鏡,是一種高頻超聲波顯微鏡,用于觀察和分析材料內(nèi)部的微觀結(jié)構(gòu)。

C-SAM的工作原理是,通過發(fā)射高頻超聲波傳遞到樣品內(nèi)部,當聲波遇到與周圍材質(zhì)不同的物質(zhì)時,會發(fā)生反射、散射、吸收、阻擋等現(xiàn)象。返回的聲波(回聲)被接收并處理,用于生成內(nèi)部結(jié)構(gòu)的圖像。

C-SAM技術具有很高的空間分辨率,通常能夠達到微米甚至亞微米級別。能夠清晰地顯示PCB內(nèi)部的微小結(jié)構(gòu)和缺陷,如分層、裂紋、空洞等。C-SAM還支持多層掃描功能,能夠聚焦到PCB內(nèi)部的特定層次,實現(xiàn)對不同深度的結(jié)構(gòu)進行逐一分析。

C-SAM超聲波檢測用途:

1. 缺陷檢測

分層檢測:C-SAM能夠檢測PCB內(nèi)部的分層現(xiàn)象,這是PCB生產(chǎn)中常見的質(zhì)量問題。通過超聲波在材料界面處的反射和透射差異,C-SAM可以清晰地顯示分層的位置和范圍;

同樣利用超聲波的反射特性,C-SAM能夠識別PCB中的微小裂紋和空洞??梢栽谏a(chǎn)早期發(fā)現(xiàn)并解決這些問題。

2. 多層結(jié)構(gòu)分析

多層PCB檢測:在多層PCB中,層間互連的可靠性至關重要。C-SAM可以檢測層間互連的完整性和質(zhì)量,如過孔、盲孔和埋孔等,確保它們沒有斷裂、錯位或接觸不良等問題。

3. 失效分析

失效原因分析:當PCB在使用過程中出現(xiàn)故障時,C-SAM可以用于失效原因分析。通過檢測失效部位的微觀結(jié)構(gòu)和缺陷情況,可以找出導致故障的根本原因,為后續(xù)的改進和修復提供依據(jù)。

C-SAM技術不僅局限于PCB質(zhì)量檢測,還廣泛應用于半導體、汽車電子、航空航天等多個領域。在半導體制造中,C-SAM能夠精準檢測晶圓分層、錫球裂紋等缺陷;在汽車電子領域,則能確保ECU等關鍵部件的可靠性和穩(wěn)定性。

 

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