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掃描電鏡是一種用途廣泛的科學研究儀器,是通過電子束來成像的,，其放大倍數(shù)可達幾十萬倍，分辨率可達納米級別，是形貌和成分分析領域極其重要的一種工具。$n掃描電鏡測試項目：$nSEM：形貌觀察，利用背散射電子（BEI）和二次電子（SEI）來成像，可放大倍率5-100萬倍 。$nEDS：成分分析（半定量），通過特征X-RAY獲取樣品表面的成分信息，測量Be及以上元素。

SEM掃描電鏡檢測是一種在材料科學和納米科學領域中廣泛使用的設備，其能力使它成為研究微觀結構和性能的重要工具。